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簡(jiǎn)要描述:XL-640型X射線應(yīng)力儀1.2θ平面與ψ平面相垂直; 2.使入射線與線陣探測(cè)器的垂直平分線關(guān)于ψ平面對(duì)稱分布; 3.對(duì)于不同的材料、靶材和衍射角,需要改變2θ范圍時(shí),采用步進(jìn)電機(jī)、鋼帶傳動(dòng),同步地、對(duì)稱地改變X射線管和探測(cè)器的位置,維持正確的側(cè)傾法衍射幾何布置。
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XL-640型X射線應(yīng)力儀
其主要特點(diǎn):
1.2θ平面與ψ平面相垂直;
2.使入射線與線陣探測(cè)器的垂直平分線關(guān)于ψ平面對(duì)稱分布;
3.對(duì)于不同的材料、靶材和衍射角,需要改變2θ范圍時(shí),采用步進(jìn)電機(jī)、鋼帶傳動(dòng),同步地、對(duì)稱地改變X射線管和探測(cè)器的位置,維持正確的側(cè)傾法衍射幾何布置。
XL-640型X射線應(yīng)力儀
探測(cè)器:
瑞士DECTRIS公司的微帶X射線探測(cè)器(Microstrip X-ray Detectors)。該探測(cè)器的接收部分由640硅微帶組成,每條硅微帶的寬度為50μm,能夠靈敏地接收達(dá)到一定能量閾值的單個(gè)X光子,實(shí)現(xiàn)所謂的無(wú)噪聲單光子計(jì)數(shù),并且具有抗輻射、免維護(hù)和無(wú)限壽命的特點(diǎn)。
技術(shù)參數(shù):
測(cè)量方法,其特點(diǎn)如下:
正確的側(cè)傾法(或稱為χ法、ψ測(cè)角儀,基本免除吸收因子影響)。
允許設(shè)置多個(gè)正負(fù)ψ角和φ角進(jìn)行測(cè)試測(cè)試(解決織構(gòu)材料應(yīng)力測(cè)試、三維應(yīng)力測(cè)試問(wèn)題)。
擺動(dòng)法(解決粗晶材料的應(yīng)力測(cè)試問(wèn)題)。
殘余奧氏體含量測(cè)定。
被測(cè)材料:適合于鐵素體型、奧氏體型鋼、鋁、鈦、鎳,和金、銀、鉑等貴金屬,以及氧化鋯等陶瓷材料。
X射線管:Cr、Cu、Mn靶材。
高壓電源:大功率30kV×10mA。
探測(cè)器:硅微帶線陣探測(cè)器(無(wú)噪聲單光子計(jì)數(shù),抗輻射、免維護(hù)和無(wú)限壽命)。640通道。覆蓋范圍24°。
2θ范圍:117°~170°,2θ分辨率0.0375°。
ψ角范圍:±60°。
準(zhǔn)直管:內(nèi)徑為Ø0.5mm、Ø1mm、Ø1.5mm、Ø2mm、Ø3mm計(jì)5個(gè)規(guī)格,可以更換。
測(cè)試點(diǎn)定位:采用激光定位器。
X射線管冷卻系統(tǒng):封閉恒溫循環(huán)水箱。
輻射:在儀器工作狀態(tài),防護(hù)罩之外輻射劑量等同于大氣本底,無(wú)防護(hù)的條件下,2米之外的輻射劑量等同于大氣本底。
電源:2000W,220V,50Hz。
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