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簡要描述:phoenix v|tome|x L 300 CT檢測系統(tǒng)是多功能高分辨率微焦點系統(tǒng),用于二維和三維計算機斷層掃描(micro ct)和二維無損X射線檢測。
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phoenix v|tome|x L 300 CT檢測系統(tǒng)是多功能高分辨率微焦點系統(tǒng),用于二維和三維計算機斷層掃描(micro ct)和二維無損X射線檢測。 它配備有一個單極300千伏/ 500 瓦的微聚焦源,確保了300千伏的世界上好的放大倍率。其基于花崗巖的操作可處理多達50千克,長600 毫米/ 直徑500毫米的大樣本且具有精度。 該系統(tǒng)是一個用于無效和缺陷檢測和復(fù)合材料、鑄件和精密零件如注射噴口或渦輪葉片的三維測量(如*檢測)的*的解決方案。 可選的高功率納米焦距X射線管可使 phoenix v|tome|x L 300適應(yīng)任何種類的工業(yè)和科學(xué)高分辨率CT應(yīng)用。
phoenix v|tome|x L 300 CT檢測系統(tǒng)
主要功能
因其單極300千伏的管設(shè)計(在焦點和樣本大小之間有5毫米的距離),放大倍率可用于高吸收樣品的定量無損檢測
三維測量包用于空間測量,具有*精度,再現(xiàn)性和親和力
鋼鐵零件和大型鋁鑄件的故障檢測和可重現(xiàn)的三維測量
二維X射線檢測和三維計算機斷層掃描(micro ct and nano ct) 模式之間的輕松轉(zhuǎn)換可細化至1微米
顧客利益:
廣泛應(yīng)用于不同樣本而無需改變X射線管
通過高動態(tài)溫度穩(wěn)定的GE DXR數(shù)字探測器獲取的30 FPS(幀每秒)和菱形|窗口(可選)的快速CT采集和清晰的影像
通過 VELO | CT在幾秒鐘或幾分鐘內(nèi)(取決于體積大?。┩瓿筛斓娜SCT重建
用點擊&測量|CT進行高精度且可重現(xiàn)的三維測量,使用datos | X 2.0 - 在少于1小時之內(nèi)自動生成*檢測記錄是可能的
高達10倍的增加的燈絲壽命,通過長壽命的|燈絲(可選)確保了長期穩(wěn)定性系統(tǒng)效率
三維計算機斷層掃描 工業(yè)X射線三維計算機斷層掃描(micro ct 與 nano ct) 的經(jīng)典應(yīng)用是對金屬和塑料鑄件的檢測和三維測量。 然而, phoenix| X射線的高分辨率X射線技術(shù)開辟了在眾多領(lǐng)域的新應(yīng)用,如傳感器技術(shù)、電子、材料科學(xué)以及許多其他自然科學(xué)。 渦輪葉片是復(fù)雜的高性能鑄件,要滿足高質(zhì)量和安全性的要求。 CT可進行故障分析以及精確的三維測量(如壁厚)。 材料科學(xué) 高分辨率計算機斷層掃描(micro ct 與 nano ct)用于檢測材料、復(fù)合材料、燒結(jié)材料和陶瓷,但也用來對地質(zhì)或生物樣品進行分析。 材料分配、空隙率和裂縫在微觀分辨率上是三維可視的。 玻璃纖維復(fù)合材料的nanoCT ®: 纖維氈(藍色)的纖維方向和基質(zhì)樹脂(橙色)會顯示出來。 右邊: 樹脂內(nèi)的空洞會以暗腔出現(xiàn)。 左邊: 樹脂已淡出,以更好地使纖維氈可視化。 氈內(nèi)的單根纖維是可見的。 傳感器和電氣工程 在傳感器和電子元件的檢測中,高分辨率X射線技術(shù)主要用于檢測和評估接觸點、接頭、箱子、絕緣子和裝配情況。 它甚至可以檢測半導(dǎo)體元件和電子設(shè)備(焊點),而無需拆卸設(shè)備。 一個表達式探針(連接器端視圖)的微焦點計算機斷層掃描(micro ct)圖像顯示鉻鎳鐵合金保護套(黃色),包括激光焊接的接縫,壓接連接(藍色)和陶瓷的氧傳感器的觸點(藍/紅)。 | 測量 用X射線進行的三維測量是可對復(fù)雜物體內(nèi)部進行無損測量的技術(shù)。 通過與傳統(tǒng)的觸覺坐標測量技術(shù)的對比,對一個物體進行計算機斷層掃描的同時可獲得所有的曲面點 - 包括所有無法使用其他測量方法無損進入的隱蔽形體,如底切。 v|tome|x s 有一個特殊的三維測量包,其中包含空間測量所需的所有工具,從校準儀器到表面提取模塊,具有可能的精度,可再現(xiàn)且具有親和力. 除了二維壁厚測量,CT體數(shù)據(jù)可以快速方便地與CAD數(shù)據(jù)進行比較,例如,分析完成元件,以確保其符合所有的規(guī)定尺寸。 對氣缸蓋的三維測量 鑄件與焊接 射線無損檢測用于檢測鑄件和焊縫缺陷。 微焦點X射線技術(shù)和工業(yè)X射線計算機斷層掃描(mico ct)的結(jié)合,使得微米范圍內(nèi)的缺陷探測成為可能,并提供低對比度缺陷的三維圖像。
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