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OmniScan ECA渦流陣列探傷儀

簡要描述:OmniScan ECA渦流陣列探傷儀以電子方式驅(qū)動同一個探頭中多個相鄰的渦流感應(yīng)線圈,并解讀來自這些感應(yīng)線圈的信號。通過使用多路技術(shù)采集數(shù)據(jù), 可避免不同線圈之間的互感。

  • 產(chǎn)品型號:OmniScan ECA
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2024-07-06
  • 訪  問  量:761

詳細(xì)介紹

OmniScan ECA渦流陣列探傷儀

渦流陣列技術(shù) 
渦流陣列技術(shù)(ECA)以電子方式驅(qū)動同一個探頭中多個相鄰的渦流感應(yīng)線圈,并解讀來自這些感應(yīng)線圈的信號。通過使用多路技術(shù)采集數(shù)據(jù), 可避免不同線圈之間的互感。 

OmniScan® ECA檢測配置在橋式或發(fā)射-接收模式下可支持32個感應(yīng)線圈(使用外部多路器可支持的感應(yīng)線圈多達64個)。操作頻率范圍為20 Hz~6 MHz,并能選擇在同一采集中使用多頻。

渦流陣列的優(yōu)勢 
同單通道渦流技術(shù)相比,渦流陣列技術(shù)具有下列優(yōu)勢:

  • 檢測時間大幅度降低。

  • 單次掃查覆蓋更大檢測區(qū)域。

  • 減小了機械和自動掃查系統(tǒng)的復(fù)雜性。

  • 提供檢測區(qū)域?qū)崟r圖像,便于數(shù)據(jù)的判讀。

  • *地適用于對那些具有復(fù)雜幾何形狀的部件的檢測。

  • 改進了檢測的可靠性和檢出率(POD)。

渦流陣列探頭 
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。根據(jù)缺陷的不同類型或者被測工件的形狀,可以設(shè)計出不同的探頭。標(biāo)準(zhǔn)探頭可檢測如裂紋、點蝕等缺陷,以及多層結(jié)構(gòu)中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。

OmniScan ECA渦流陣列探傷儀

渦流模塊的技術(shù)規(guī)格
外型尺寸 
(寬 x 高 x 厚)
244毫米 x 182毫米 x 57毫米 
(9.6英寸 x 7.1英寸 x 2.1英寸)
重量1.2公斤(2.6磅)
接口1個OmniScan®渦流陣列探頭接口 
1個19針Fischer®渦流探頭接口 
1個BNC接口
通道數(shù)量

32個通道,帶內(nèi)置多路轉(zhuǎn)換器 
64個通道,帶外置多路轉(zhuǎn)換器

探頭識別自動探頭識別和設(shè)置
發(fā)生器
發(fā)生器數(shù)量1個(帶內(nèi)置電子參考)
大電壓12 Vp-p,10 Ω
工作頻率20 Hz~6 MHz
帶寬8 Hz~5 kHz(單線圈中)。同時隙成反比例關(guān)系,并通過儀器在多路模式下設(shè)定。
接收器
接收器數(shù)量1個~4個
大輸入信號1 Vp-p
增益28 dB~68 dB
內(nèi)置多路轉(zhuǎn)換器
發(fā)生器數(shù)量32個(8個時隙時,4個發(fā)生器同時工作;使用外部多路轉(zhuǎn)換器時,多達64個)
大電壓12 Vp-p,50 Ω
接收器數(shù)量

4個差分接收器(每個8時隙)

大輸入信號1 Vp-p
數(shù)據(jù)采集
數(shù)字化頻率

40 MHz

采集速率1 Hz~15 kHz(單線圈中)。 速率可由儀器處理能力限制,或通過多路激發(fā)模式的延遲設(shè)定所限制。
A/D分辨率16比特
數(shù)據(jù)處理
相位旋轉(zhuǎn)0°~360°,步距為0.1°
濾波FIR低通、FIR高通、FIR帶通、FIR帶阻(截止頻率可調(diào))、中值濾波器(在2點~200點之間變化)、平均濾波器(在2點~200點之間變化 )
通道處理混合
數(shù)據(jù)存儲
大文件容量

取決于內(nèi)部閃存空間:180 MB(或者300 MB,可選)

數(shù)據(jù)同步
按內(nèi)部時鐘1 Hz~15 kHz(單線圈)
外部步速
按編碼器單軸或雙軸
報警器
報警器數(shù)量3個
報警區(qū)域形狀扇形、倒置扇形、框形、倒置框形和環(huán)形
輸出類型視頻、音頻以及TTL信號
模擬輸出1個(X或Y)

主要應(yīng)用: 緊固件表層裂紋檢測

制造商用型和軍用型航天飛機時,要使用成千上萬個緊固件將搭接的鋁制板材連接在一起。下層鋁板上的疲勞裂紋經(jīng)常會被一層蒙皮隱藏起來。要確保任何航天飛機的完好無損性,在定期的在役檢測過程中,必須探測到這些隱藏的缺陷,并進行修復(fù)。

奧林巴斯開發(fā)了一項用于對緊固件和近表層裂紋進行檢測的創(chuàng)新型技術(shù),作為航空航天系列解決方案的一部分。這個方案將渦流技術(shù)應(yīng)用到一個尚未探知的領(lǐng)域。這個新技術(shù)可顯示飛機一層鋁制蒙皮下裂紋的極為清晰的圖像,可為用戶有效提供可靠的檢測結(jié)果。

特性

  • 可替代磁光成像(MOI)。

  • 32個線圈探頭可覆蓋寬大的范圍。

  • 無需去除漆層;簡化了操作過程,節(jié)省了大量時間。

  • 使用持續(xù)模式,掃描圖像可以不間斷地顯示檢測結(jié)果。

  • 數(shù)據(jù)記錄功能有助于制作專業(yè)性報告。

  • 對探頭的放置要求不如滑動式探頭那么嚴(yán)格。

  • 經(jīng)過優(yōu)化后,可以探測商用型和軍用型飛機鋁制板材之間的典型近表層裂紋。


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