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5DL16-12X5-A25-P-2.5雙線性陣列超聲波探頭

簡要描述:Omnoscan SX/MX2 OLYMPUS奧林巴斯5DL16-12X5-A25-P-2.5雙線性陣列超聲波探頭,使用雙線性陣列(DLA)探針檢查小直徑奧氏體鋼管,適應(yīng)包括在包楔覆蓋英寸OD的范圍內(nèi)的1?4.5英寸OD,附著在COBRA ®小直徑管焊接掃描器,并且可以使用OmniScan®可SX探傷儀被操作。該軟件包為線性剪切波無法檢測出嘈雜或衰減性材料中的缺陷的檢測提供了解決方案

  • 產(chǎn)品型號:Omnoscan SX/MX2
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2024-07-06
  • 訪  問  量:1322

詳細(xì)介紹

Omnoscan SX/MX2 OLYMPUS奧林巴斯5DL16-12X5-A25-P-2.5雙線性陣列超聲波探頭

使用雙線性陣列(DLA)探針檢查小直徑奧氏體鋼管,適應(yīng)包括在包楔覆蓋英寸OD的范圍內(nèi)的1?4.5英寸OD,附著在COBRA ®小直徑管焊接掃描器,并且可以使用OmniScan®可SX探傷儀被操作。該軟件包為線性剪切波無法檢測出嘈雜或衰減性材料中的缺陷的檢測提供了解決方案

雙線性陣列探頭:底視圖

 零件號描述
 5DL16-12X5-A25-P-2.5-OM標(biāo)準(zhǔn)相控陣探頭,5兆赫,雙16個元件陣列,12×5mm的總有效孔徑,0.75毫米間距為5mm高程,A25殼體類型,阻抗匹配Rexolite ®,PVC護(hù)套,2.5米長的電纜,一(1) OmniScan連接器。
 SA25-DN70L-套件一(1)個SA25-DN70L扁平楔形件和九(9)個SA25-DN70L彎曲楔形件,用于覆蓋從0.84英寸外徑到4.5英寸外徑的公稱管道尺寸(NPS)。具有IH選項(xiàng)(灌溉孔和掃描儀孔)。適合A25雙陣列探頭。重要提示:為聚焦法則的OmniScan ®使用此解決方案不能在的OmniScan探傷儀創(chuàng)建; 它們必須使用NDT SetupBuilder創(chuàng)建(也可以使用TomoView ™)。該解決方案將增加使用COBRA掃描儀所需的小高度間隙。
 半眼鏡蛇一側(cè)的COBRA掃描儀套件,使用一個包括灌溉部件和設(shè)置模板的探頭,可檢查外徑為0.84英寸至4.5英寸的管道。用LEMO2.5米編碼器電纜®連接器與所述的OmniScan MX2和SX兼容。不包括:楔子和探針。
 OMNISXPA1664PR-A25-SA25OmniScan SX和A25 COBRA掃描儀DLA*套件。包括OmniScan SX便攜式16:64PR相控陣采集單元(包括一個UT常規(guī)通道),具有:AC適配器,電池,小型手提箱,SD ™卡,USB閃存驅(qū)動器,兩(2)個防眩光屏幕保護(hù)膜,用戶手冊,包括OmniScan軟件的USB密鑰用戶手冊,1年保修。還包括以下各項(xiàng):(1)具有OmniPC和NDT SetupBuilder(OMNIPC-A)-(1)的OmniPC ™ HASP密鑰。 
+單面COBRA掃描儀套件,用于從0.84 in。OD到4.5 in。OD管(COBRA-HALF)-(1)5 MHz,16元素雙線性陣列探頭,A25外殼,用于COBRA掃描儀(5DL16-12X5-A25- P-2.5-OM)(1)A25系列楔形套件,包括一(1)個平楔和九(9)個輪廓楔(SA25-DN70L-KIT)-(1)ES BeamTool版本8 HardLock(HASP鍵)套件PA技術(shù)開發(fā)(SOFT-ESBEAM8HL)。

設(shè)定

設(shè)置解決方案

  1. 選擇所需的外徑的楔形和LAW文件。
  2. 耦合探針和楔子。
  3. 加載用于特定焦深和外徑的LAW文件。(每個探針都提供了帶有高級計(jì)算器設(shè)置和LAW文件的USB密鑰。)
  4. 設(shè)置零件和焊接進(jìn)行檢查。
  5. 使用相同的基礎(chǔ)材料校準(zhǔn)ID和OD槽口:
    • 手動調(diào)整楔形延遲(通常約為0.6μs)。
    • 使用具有所需折射率偏移的反射器,以在OmniScan向?qū)е型瓿蓛牲c(diǎn)靈敏度校準(zhǔn)。


解決方案設(shè)置圖

 

結(jié)果應(yīng)為檢查的焊接中心線處的兩個尖峰反射器。

 

 

小直徑管道上的相控陣探頭設(shè)置

正確設(shè)置結(jié)果的屏幕視圖

 

下面是縱向雙線性陣列的可能信號路徑圖。如果澆口設(shè)置正確,則A澆口將顯示以縱向壓縮速度行進(jìn)的方法1和2,并將在正確的體積位置處繪制在焊縫中。B門將顯示包含至少一個剪切波分支的技術(shù)3和4,即使無法正確繪制,它仍可用于探傷和確定長度。

 

結(jié)果:

使用校準(zhǔn)后的設(shè)置,我們掃描并記錄了數(shù)據(jù)。我們發(fā)現(xiàn),A閘門記錄了焊縫幾何形狀以及管道中四個缺陷的信號響應(yīng)。更改C掃描以顯示B門顯示,在查看模式轉(zhuǎn)換信號時,沿掃描軸的位置很容易發(fā)現(xiàn)缺陷。

結(jié)果:C掃描更改為顯示B門

 Omnoscan SX/MX2 OLYMPUS奧林巴斯5DL16-12X5-A25-P-2.5雙線性陣列超聲波探頭

然后,我們在ACRS視圖中觀察了每個缺陷。這樣,我們就可以沿著掃描通道,光標(biāo)放置在A掃描以及R / S掃描顯示指示在焊縫中的位置*來查看每個指示。我們注意在A門中觀察數(shù)據(jù)以驗(yàn)證其繪制是否準(zhǔn)確,同時要記住,模式轉(zhuǎn)換信號會出現(xiàn)其他指示。

*僅當(dāng)直接縱向波超過A門的閾值時,指示的位置才是準(zhǔn)確的。

缺陷1是中心線裂縫,在A和B澆口中都檢測到。我們可以觀察到根部幾何圖形正上方的焊縫中準(zhǔn)確繪制的中心線裂紋。還有一個二次模式轉(zhuǎn)換信號,該信號位置不對,但對于掃描軸上的缺陷檢測和長度調(diào)整很有用。

 

缺陷1:中心線裂縫圖

缺陷1:中心線裂紋掃描結(jié)果

 

缺陷2是另一個中心線裂縫,可以通過模式轉(zhuǎn)換信號清楚地檢測到它,但是在直接縱向中顯得很弱。在這種情況下,您可以看到缺陷在焊縫中心以23.5%的幅度顯示。

 

缺陷2:中心線裂紋圖(更深的裂紋)

缺陷2:中心線裂紋掃描結(jié)果

 

缺陷3是沿著焊縫斜角的外部疲勞裂紋。指示在模式轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)中非常清晰地顯示,但對于直接縱向波,其幅度僅為19.6%。

 

缺陷3:外部疲勞裂紋圖

缺陷3:外部疲勞裂紋掃描結(jié)果

 

缺陷4是沿焊縫根部的內(nèi)部疲勞裂紋。它顯示在縱向信號的第二個支路內(nèi),并正確顯示在焊縫上。

 

缺陷4:內(nèi)部疲勞裂紋圖

缺陷4:內(nèi)部疲勞裂紋掃描結(jié)果

 

結(jié)論

A25雙線性探頭能夠檢查薄壁,小直徑的奧氏體焊縫。使用定位為顯示所有信號模式的門可以確保良好的檢測和缺陷的長度確定。對回波動力學(xué),雙線性信號模式和探頭校準(zhǔn)的高級理解對于成功檢查至關(guān)重要。

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